1.df/dt测试范围

　　测试“df/dt闭锁值”时，在此范围内逐点进行试探测试，每次测试时都从频率始值下滑（或上滑）至终值，下滑（或上滑）的df/dt值在该范围内逐点变化，试探至某一轮试验至保护动作，则测出此时的df/dt闭锁的边界值。因为保护在大于整定的df/dt值下滑时闭锁，所以，一般变化始值应设置为大于保护整定的闭锁值，变化终值应设置为小于保护整定的闭锁值，即测试保护从不动作到动作，测出保护的df/dt闭锁值。

　　2.频率变化范围

　　每轮试验频率从始值下滑（或上滑）至终值。始值一般为50Hz，变化终值不能设置太小，因为一般装置都有一个固有的“闭锁频率”，频率太低了，装置将会被闭锁不出口。

　　注意：做该试验时频率变化前延时一般不能太小，以使保护有足够时间解除闭锁状态。

　　二、微机继电保护测试仪dv/dt闭锁：

　　这个测试页与上“df/dt闭锁”很相似，区别在于每轮测试变化的是dv/dt值。

　　1.dv/dt测试范围

　　测试“dv/dt闭锁值”时在此范围内逐点进行试探测试，每次测试时电压都从电压变化始值下滑至终值，下滑的dv/dt值在该范围内逐点变化，试探至某一轮试验如果保护动作，则测出dv/dt闭锁的边界值。

　　因为装置在大于整定的dV/dt闭锁值时处于闭锁状态，所以，一般变化始值应设置为大于装置整定的闭锁值，变化终值应设置为小于装置整定的闭锁值。即试验从装置不动作做到动作，从而测出装置的dv/dt闭锁值。

　　2.电压变化范围

　　为了模拟电压下降的过程，一般应设电压的“变化始值”大于“变化终值”。同时，为了保证低周装置不因低电压而闭锁，因此设置的电压“变化终值”应大于装置定值菜单中整定的低电压闭锁值。